Determination of the Refractive Index of Dielectric Films from the Transmittance Spectrum by Using Morse Wavelet


TİRYAKİ E., KOCAHAN YILMAZ Ö., COŞKUN E., ELMAS M. N., ÖZDER S.

Science and Applications of Thin Films, Conference & Exhibition SATF 2016, 19 - 23 Eylül 2016

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi Adresli: Evet