An Improved Method For Simultaneous Determination Of Refractive Index And Thickness Of Dielectric Films A Simulation Study

ÖZCAN S., COŞKUN E., KOCAHAN YILMAZ Ö., ÖZDER S.

Science and Applications of Thin Films, Congress & Exhibition - SATF 2016, İzmir, Türkiye, 19 - 23 Eylül 2016

• Yayın Türü: Bildiri
• Basıldığı Şehir: İzmir
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi Adresli: Evet