An Improved Method For Simultaneous Determination Of Refractive Index And Thickness Of Dielectric Films A Simulation Study

ÖZCAN S., COŞKUN E., KOCAHAN YILMAZ Ö., ÖZDER S.

Science and Applications of Thin Films, Congress & Exhibition - SATF 2016, İzmir, Türkiye, 19 - 23 Eylül 2016

  • Yayın Türü: Bildiri
  • Basıldığı Şehir: İzmir
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi Adresli: Evet