Hava Ortamında Farklı Sıcaklıklarda Tavlanmış Cds Filmlerinin Optik Mikroskop, SEM ve AFM ile Yüzey Karakterizasyonu


Özkan Ş., KOSE S., BİLGİN V. , ATAY F., AKYUZ I.

XVIII. Ulusal Elektron Mikroskopi Kongresi, Eskişehir, Türkiye, 26 - 29 Ağustos 2007, ss.2

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Eskişehir
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.2