Sentiment Classification: Feature Selection Based Approaches Versus Deep Learning

UYSAL A. K., MURPHEY Y. L.

17th IEEE International Conference on Computer and Information Technology (CIT 2017), Helsinki, Finland, 21 - 23 Ağustos 2017 identifier identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1109/cit.2017.53
  • Basıldığı Şehir: Helsinki, Finland
  • Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi Adresli: Hayır