Determination of the Refractive Index of Dielectric Films from the Transmittance Spectrum by Using Morse Wavelet

TİRYAKİ E., KOCAHAN YILMAZ Ö., COŞKUN E., ELMAS M. N., ÖZDER S.

Science and Applications of Thin Films, Conference & Exhibition SATF 2016, 19 - 23 Eylül 2016, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi Adresli: Evet