Artificial neural networks machine vision and surface reflectance spectra for apple defect detection

KAVDIR İ., Guyer D.

ASAE Annual International Meeting, Milwaukee, WI July 2000, 9 - 11 Temmuz 2000, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi Adresli: Hayır