Artificial neural networks machine vision and surface reflectance spectra for apple defect detection

KAVDIR İ., Guyer D.

ASAE Annual International Meeting, Milwaukee, WI July 2000, 9 - 11 Temmuz 2000

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi Adresli: Hayır