Artificial neural networks machine vision and surface reflectance spectra for apple defect detection
Atıf İçin Kopyala
KAVDIR İ., Guyer D.
ASAE Annual International Meeting, Milwaukee, WI July 2000, 9 - 11 Temmuz 2000
-
Yayın Türü:
Bildiri / Tam Metin Bildiri
-
Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi Adresli:
Hayır